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靜電放電（ESD）的破壞作用具有隱蔽性、潛在性、隨機(jī)性和復(fù)雜性的特點(diǎn)。來(lái)自Intel的資料表明，在引起電子器件故障的諸多因素中，ESD是最大的隱患。所以，模擬靜電放電的測(cè)試在世界范圍內(nèi)得到廣泛關(guān)注。手機(jī)靜電放電失效的具體表現(xiàn)1.手機(jī)通話中斷...

高頻噪聲模擬器（使用半導(dǎo)體繼電器）INS-S420為了解決市場(chǎng)上出現(xiàn)的問(wèn)題此設(shè)備是模擬類似開關(guān)元件觸點(diǎn)之間的放電，電子馬達(dá)產(chǎn)生的電弧放電等，上升時(shí)間很快，高頻率的噪聲，來(lái)評(píng)價(jià)電子設(shè)備的抗干擾能力的測(cè)試設(shè)備。因?yàn)榘瑴y(cè)試脈沖中的頻率成分的脈沖...

在EMC中電場(chǎng)耦合是因?yàn)槲灰齐娏?displacementcurrent)的電容性效應(yīng)而產(chǎn)生。實(shí)際上我們并沒有要電流流經(jīng)某一特定方向，但是因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)上形成的寄生電容對(duì)電流提供了一個(gè)低阻抗的路徑，該路徑的阻抗比設(shè)計(jì)上的電流路徑阻抗更低。因?yàn)殡娏?..

產(chǎn)品無(wú)法在實(shí)驗(yàn)室通過(guò)測(cè)試，并不是產(chǎn)品本身EMC設(shè)計(jì)不好，而是實(shí)驗(yàn)室測(cè)試環(huán)境問(wèn)題導(dǎo)致測(cè)試不通過(guò)。EMC是一個(gè)系統(tǒng)工程問(wèn)題，要想達(dá)到最終的目的，除了對(duì)自己熟悉的產(chǎn)品外，測(cè)試及應(yīng)用環(huán)境等也應(yīng)該清楚掌握。作為一名EMC工程師，下面這些問(wèn)題，都是你曾...

IEC（國(guó)際電工委員會(huì)）即將發(fā)布旨在保護(hù)非金屬船體免受電磁(EM)干擾的重要標(biāo)準(zhǔn)第一版，該文件旨在滿足IMOresolutionA.813(19)決議的要求。IEC62742ED1提供了關(guān)于如何在非金屬材料（包括玻璃纖維等各種復(fù)合材料）船體...

測(cè)試電子產(chǎn)品必須按照IEC61000-4-2等標(biāo)準(zhǔn)來(lái)。系統(tǒng)設(shè)計(jì)師采用多種方法來(lái)確保產(chǎn)品符合主流的ESD標(biāo)準(zhǔn)，包括解決外殼設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、元件選擇，甚至是軟件修復(fù)。其中一個(gè)重要的方法是在輸入和輸出(I/O)連接器等關(guān)鍵電路節(jié)點(diǎn)處使用保護(hù)元件...